Rasterelektronenmikroskopie: Röntgenmikroanalytik, EDX und Bilderzeugung
Die Einsatzmöglichkeiten des Rasterelektronenmikroskops, REM in Verbindung mit der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse, EDX sind vielfältig. Die hier aufgeführten Anwendungsbereiche stellen nur exemplarisch einige Applikationen vor.
Viele weitere Fragestellungen können mit unseren mikrotexturellen und mikroanalytischen Prüfverfahren geklärt werden.
Unsere Leistungen für Sie:
- Röntgenmikroanalyse, EDX
- Elementmappings, Linescans
- Bilderzeugung am REM
- Korngrößenbestimmung, Faserdickenmessung
- Begutachtung von Schadensfällen
Wenn Sie Fragen haben, rufen Sie bitte an, wir beraten Sie gerne.
Einzelheiten zu den aufgeführten Prüfbereichen:
Die energiedispersive Röntgenmikroanalyse, EDX am Rasterelektronenmikroskop
Energiedispersive Röntgenmikroanalyse, EDX am Rasterelektronenmikroskop dient der qualitativen bis quantitativen Analyse kleinster Probevolumina bis hinunter auf µm3-Größe, wie
- Einschlüsse
- Verunreinigungen
- einzelne Staubpartikel
- Ausblühungen
und zur
- chemischen Charakterisierung unbekannter Materialien
einige Applikationsbeispiele:
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| metallische Einschlüsse in Schlacke | Einschlüsse in Stahlblech | Lagerkugeln | Verfärbung auf Keramik |
Elementanalyse qualitativ |
Elementanalyse halbquantitativ bis quantitativ |
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| Die qualitative Röntgenmikroanalyse erfolgt über energiedispersive Elementspektren, hier am Beispiel einer Basaltwolle, bestehend aus den Hauptlomponenten Na-Al-Mg-Si-K-Ca-Ti-Fe + O |
Die Durchführung halbquantitativer bis quantitativer Röntgenmikroanalysen erfolgt idealerweise an Präparaten mit planer und glatter Oberfläche: Im Beispiel rechts werden die Ergebnisse eines Laborvergleichs zur Röntgenmikroanalyse dargestellt. Die vollständige Dokumentation dazu finden Sie hier |
Elementverteilungsbilder über Elementmappings und Linescans
Das Rasterelektronenmikroskop, REM in Verbindung mit einem energiedispersiven Detektorsystem, EDX eignet sich in idealer Weise zur Darstellung von Materialkontrasten, Elementverteilungen über Element-Mappings und Linescans.
Die Durchführung von Elementmappings und Linescans erfolgt idealerweise an Präparaten mit planer und glatter Oberfläche:
Besonders geeignet sind metallische Werkstücke oder polierte Schliffe von oxidischen Werkstoffen.
EDX - Linescans
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| Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme eines Kupfernetzes auf einem Alumiumteller, welches mit Silberlack aufgeklebt wurde. In Grün ist die Lage des Profils vermerkt. Bildbreite ca 1,3 mm. |
EDX-Linescan für die Elemente Aluminium (grün), Kupfer (rot) und Silber (blau) entlang der im oberen Bild abgebildeten Profillinie. |
EDX - Elementverteilungsbilder - Element-Mappings
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Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme eines Kupfernetzes auf einem Aluminiumteller, welches mit Silberlack aufgeklebt wurde. Bildbreite ca. 1,3 cm. |
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| Elementverteilungsbild für Aluminium |
Elementverteilungsbild für Kupfer |
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| Elementverteilungsbild für Silber |
Kombiniertes Elementverteilungsbild für die Elemente Aluminium, Kupfer und Silber mit dem REM-Bild überlagert. |
Bilderzeugung am Rasterelektronenmikroskop
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Als hochauflösendes Bilderzeugungsgerät lässt sich das Rasterelektronenmikroskop in idealer Weise zur Abbildung von Oberflächen und mikroskopischen Strukturen einsetzen. Die Einsatzmöglichkeiten für naturwissenschaftliche, technische und medizinische Fragestellungen sind vielfältig und lassen sich an dieser Stelle nicht vollständig aufzählen. Bilder lassen sich in unterschiedlichen Auflösungen erzeugen und im Verlust-freien TIF-Format oder als JPEG-Datei ausgeben. Folgende Auflösungen bieten wir an:
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2 Bilderserien in den 4 aufgeführten Qualitätsstufen haben wir zur Ansicht online gestellt.
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Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen von Amphibolasbest (Amosit) neben idiomorphen Quarz-Kristallen, ca. 1600-fache Vergrößerung, Bildbreite ca. 190 µm |
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Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen von Chrysotilasbest in einem bituminösen Fliesenkleber, ca. 5000-fache Vergrößerung, Bildbreite ca. 60 µm |
Korngrößenverteilung, Faserdickenbestimmung
Wo klassische Verfahren wie Lasergranulometrie oder die Siebanalyse nicht einsetzbar sind, können mittels Rasterelektronenmikroskopie
- qualitativ über bildhafte Darstellung
- quantitativ über die Vermessung von Partikeln oder Fasern
geometrische Faktoren wie Korngrößen- und Faserdickenverteilungen oder z.B. der längengewichtete mittlere geometrische Durchmesser, LWGMD, von künstlichen Mineralfasern bestimmt werden.
Wenn Sie Fragen hierzu haben, rufen Sie uns an.
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| Bestimmung von Faserdurchmessern und Faserlängen mit dem Rasterelektronenmikroskop |
Bestimmung des längengewichteten mittleren geometrischen Durchmessers - LWGMD - Length Weighted Geometric Mean Diameter - von künstlichen Mineralfasern - MMMF - Man Made Mineral Fibres |
