Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme von Chrysotilasbest in einer Welleternit-Probe. Bildbreite ca. 100 µm

Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Röntgenmikroanalyse (EDX)

Wir sind ein akkreditiertes und unabhängiges Prüflaboratorium mit inzwischen fast 20 Jahren Erfahrung.

Unsere Dienstleistungen im Bereich Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Röntgenmikroanalyse (EDX):

die Analyse von Luft-, Staubkontakt- und Materialproben auf Asbest und künstliche Mineralfasern (KMF). > mehr
Die Prüfung künstlicher Mineralfaser-Produkte auf das Vorhandensein lungengängiger WHO-Fasern und den Kanzerogenitätsindex> mehr
Röntgenmikroanalytik zur chemischen Identifizierung kleinster Probekörper, Begutachtung von Schadensfällen, Korrosionsphänomenen, Oberflächenkontamination, etc und Bilderzeugung zur Abbildung von Oberflächen, Beschichtungen, mikroskopischen Strukturen > mehr

Funktionsprinzip Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Röntgenmikroanalyse (EDX)

Rasterelektronenmikroskop XL40

Bei der Rasterlektronenmikroskopie wird ein Ausschnitt der Probenoberfläche mit einem fein fokussierten Elektronenstrahl von wenigen Nanometern Durchmesser abgetastet. Im Unterschied zur Lichtmikroskopie können hierbei morphologische Merkmale bei sehr hoher Vergrößerung und Tiefenschärfe abgebildet werden.

Außerdem kommt es zu einer Wechselwirkung des Elektronenstrahles mit den Atomhüllen der Elemente des zu untersuchenden Materiales. Dabei entsteht u.a. eine elementtypische Röntgenfluoreszenzstrahlung, die mit einem energie- (EDX) oder wellenlängen-dispersiven (WDX) Detektorsystem aufgezeichnet und zur Analyse genutzt werden kann.