Microscopie électronique à balayage (MEB) et microanalyse par rayons X (EDX)

Nos services dans le domaine de la microscopie électronique à balayage (MEB) et la microanalyse par rayons X (EDX) :

• L’analyse d’échantillons d’air, de poussières et de matériaux portant sur l’amiante et les fibres minérales artificielles (FMA> lire la suite
• L’analyse de produits à base de fibres minérales artificielles portant sur les fibres OMS offrant le risque d’intrusion dans les poumons et de l’indice de cancérogénicité > lire la suite
• Microanalyse par rayons X pour l’identification chimique de micro-échantillons, évaluation de sinistres, phénomènes de corrosion, contaminations superficielles, etc. et génération d’images pour visualiser des superficies, des revêtements, des structures microscopiques > lire la suite

Principe de fonctionnement de la microscopie électronique à balayage (MEB) et de la microanalyse par rayons X (EDX)

microscopie électronique à balayage XL40

La microscopie électronique à balayage permet de balayer une partie de la surface de l’échantillon à l’aide d’un faisceau électronique d’un diamètre de quelques nanomètres. Contrairement à la microscopie optique, cette méthode permet de visualiser des caractéristiques morphologiques avec un agrandissement élevé et une profondeur de champ accrue.

En outre, il se crée une interaction entre le faisceau électronique et les enveloppes atomiques des éléments du matériau à analyser. Pendant le balayage, il se crée un rayonnement par fluorescence X qui peut être enregistré par un système d'analyse dispersive en énergie (EDX) ou un système d’analyse dispersive en longueur d'onde (WDX) et utilisé à des fins d’analyse.